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LCoS微显示驱动芯片表面形貌研究与改进

         

摘要

介绍了LCoS技术的特点与发展现状,LCoS性能的优劣与硅基片平整度有直接关系,着重进行了LCoS微显示驱动技术表面形貌的研究与改进.通过严格控制工艺步骤,降低台阶高度;合理设计版图布局,使台阶叠加在隔离像素区域的沟槽中,这样既能实现像素电极区域的局部平坦化,又因为沟槽不作为显示区域,对整体显示效果影响较小.

著录项

  • 来源
    《液晶与显示》 |2008年第5期|629-632|共4页
  • 作者单位

    中国科学院微电子研究所,北京,100029;

    中国科学院微电子研究所,北京,100029;

    中国科学院微电子研究所,北京,100029;

    中国科学院微电子研究所,北京,100029;

    中国科学院微电子研究所,北京,100029;

    中国科学院微电子研究所,北京,100029;

    中国科学院微电子研究所,北京,100029;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033;

    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 显示技术;液晶显示器;
  • 关键词

    LCOS; 微显示; CMP; 镜面电极;

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