使用EOF垂直基函数的像素基电离层层析重构

摘要

在传统像素基电离层层析成像中,直接将每个格网内的电离层电子密度作为未知数进行反演,容易出现由于未知数数目庞大而导致反演效率下降的问题。通过利用国际参考电离层(IRI)模型提取经验正交函数(EOFs)作为垂直方向基函数,将每个高度剖面的EOF系数作为未知数,可以显著减少未知数的数目,结合乘法代数重构算法(MART)进行电离层电子密度的重构,有效提升了反演计算效率。通过模拟数据和实测数据对该算法的反演结果进行验证,并将反演结果与测高仪实测数据和传统MART算法进行比较,结果表明该算法可以更加高效、准确地反演区域电离层电子密度。