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机译:使用硅漂移检测器检测PIXEL中的中光元素
Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano and INFN ~ Sezione di Milano, Italy;
IFG- Institute for Scientific Instruments GmbH, Berlin, Germany;
Dipartimento di Fisica, Universitd degli Studi di Firenze and INFN, Sezione di Firenze, Italy ,Dipartimento di Fisica and INFN, Via G. Sansone 1, 50019 Sesto Fiorentino (Firenze), Italy;
Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano and INFN ~ Sezione di Milano, Italy;
Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano and INFN ~ Sezione di Milano, Italy;
Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano and INFN ~ Sezione di Milano, Italy ,IFN-CNR, Sezione di Milano, Italy;
Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano and INFN ~ Sezione di Milano, Italy;
PIXE; silicon drift detector; high-resolution x-ray spectroscopy; x-ray polycapillary;
机译:SiLi检测器和硅漂移检测器用于测定全反射X射线荧光中低Z元素的比较
机译:单像素硅漂移探测器的高精度映射,用于天体物理学和高级光源
机译:用于天体物理学和先进光源的应用单像素硅漂移探测器的高精度映射
机译:可行性评估硅漂移探测器在中光元件的PIXE检测中的应用
机译:像素化微结构半导体中子探测器中电荷载波漂移的仿真与验证
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:具有锂漂移的硅探测器系统的一些经阵容元件的低能量X射线测量。
机译:采用锂离子扫描硅探测器系统对某些超导元件进行低能X射线测量,