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机译:表面粗糙度对厚靶法测量电子轰击内壳电离截面的影响
Key Laboratory of Radiation Physics and Technology of Ministry of Education, Institute of Nuclear Science and Technology, Sichuan University, 29 Wangjiang Road,Chengdu 610064,PR China;
Key Laboratory of Radiation Physics and Technology of Ministry of Education, Institute of Nuclear Science and Technology, Sichuan University, 29 Wangjiang Road,Chengdu 610064,PR China;
atomic inner-shell ionization by electron; impact; Monte Carlo simulation; tikhonov regularization method; surface roughness;
机译:通过电子或正电子撞击测量内壳电离截面的厚靶方法中的反问题
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机译:电子或正电子撞击厚度测量内壳电离横截面测量的倒数问题
机译:电子撞击对壳内电离和X射线产生的测量和计算截面的分析
机译:使用ZEUS探测器测量带有纵向极化电子的中性电流电子-质子截面
机译:烃离子的电子碰撞总电离截面
机译:电子撞击内壳电离截面的新测量和计算
机译:在Na-型Kr和Xe的电子碰撞激发/电离之后测量横截面和共振结构