Test resource partitioning

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• 来源
  《ieee design & test of computers》 |2000年第3期|126-132|共7页
• 作者

  Loranger M; Wheater DL; Pateras SWest BGNeedham WMuhmenthaler PBarber MRZorian Y;

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• 作者单位

  Credence Systems Corp, Fremont, CA USA;

  IBM Corp, Div Microelectron, Dept VLSI Test Engn, Essex Junction, VT USA;

  LogicVision, Memory & System Test Sect, San Jose, CA USAInfineon Technol, Munich, GermanyLucent Technol, VLSI Test Systems Dept, Allentown, PA USA;

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 英语
• 中图分类
• 关键词