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机译:Defect-oriented testing and defective-part-level prediction
Dworak J; Wicker JD; Lee SGrimaila MRMercer MRButler KMStewart BWang LC;
Texas A&M Univ, Dept Elect Engn, College Stn, TX 77843 USA;
Texas Instruments Inc, Dallas, TX 75265 USA;
Univ Calif Santa Barbara, Santa Barbara, CA 93106 USA;
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