Industrial and university test research collaboration

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• 来源
  《ieee design & test of computers》 |2001年第2期|98-105|共8页
• 作者

  Nigh P; Aitken R; Roy KTollefson GStewart B;

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• 作者单位

  IBM, VLSI Test Engn, Burlington, VT USA;

  Agilent Technol, ASIC Design Methodol Grp, Santa Clara, CA USA;

  Purdue Univ, W Lafayette, IN 47907 USAIntel Corp, Acad Res Programs, Folsom, CA USATexas Instruments Inc, ASIC Div, DFT ATPG Applicat Project, Dallas, TX 75265 USAUniv Calif Santa Barbara, Santa Barbara, CA 93106 USA;

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 英语
• 中图分类
• 关键词