产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品

摘要

本发明提供一种产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品，方法包括：通过确定待测产品图像；并获取产品缺陷检测结果，输入所述待测产品图像至产品缺陷检测模型，得到所述产品缺陷检测模型输出的产品缺陷检测结果；其中，产品缺陷检测模型用于根据所述待测产品图像的特征图与目标特征映射中心的距离，对待测产品图像进行产品缺陷检测；所述产品缺陷检测模型是基于不同位置和/或角度的样本产品图像训练得到的。本发明用以解决现有技术中产品缺陷检测依赖人工，不仅提升了人力成本，并且效率和准确率也难以保证的缺陷。