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光学特性测定装置和光学特性测定方法

摘要

本发明具备:光源(30),其向试样(20)照射光;驻波形成部(40),其在试样(20)中形成与来自光源(30)的光入射的试样(20)的表面垂直的声驻波,该声驻波的波节位于从所述试样(20)的表面向内侧离开规定距离的位置处;检测器(50),其相对于试样(20)的表面配置在与光源(30)相同的一侧,对从试样(20)的表面射出的光进行检测;以及吸光度计算部(74),其根据在由驻波形成部(40)在试样(20)中形成了声驻波的状态下向试样(20)的表面照射了光时的检测器(50)的检测结果和在试样(20)中没有形成声驻波的状态下向试样(20)的表面照射了光时的检测器(50)的检测结果,求出作为试样的光学特性的吸光度。

著录项

  • 公开/公告号CN109642868B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国立大学法人香川大学;

    申请/专利号CN201780050938.6

  • 发明设计人 石丸伊知郎;

    申请日2017-08-18

  • 分类号G01N21/27(20060101);

  • 代理机构11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本香川县

  • 入库时间 2022-08-23 13:16:28

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