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多层薄膜材料的垂直磁各向异性检测方法

摘要

本发明公开了多层薄膜材料的垂直磁各向异性检测方法,涉及材料分析领域,包括以下步骤:从磁性金属元素中选取目标元素;获取多层薄膜材料具备垂直磁各向异性时的氧化度预测范围;获取COB;获取CB;根据公式I计算多层薄膜材料的氧化度ε的实测值;判定多层薄膜材料的实测值是否在氧化度预测范围内;若多层薄膜材料的实测值在氧化度预测范围内,则多层薄膜材料具备垂直磁各向异性,反之,则不具备。本发明提供的多层薄膜材料的垂直磁各向异性检测方法,通过半定量数据对垂直磁各向异性进行表征,测试方法简单、直接且快捷;后续可以通过半定量的氧化度ε的实测值作为垂直磁各向异性的定量指标,有助于进一步研究。

著录项

  • 公开/公告号CN114002252A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 季华实验室;

    申请/专利号CN202111652469.X

  • 申请日2021-12-31

  • 分类号G01N23/2273(20180101);

  • 代理机构44287 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所;

  • 代理人杨培权

  • 地址 528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号

  • 入库时间 2023-06-19 14:05:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-26

    授权

    发明专利权授予

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