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光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法

摘要

本发明提供一种能够在较短的时间内安装并且能够提高检测灵敏度的光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法。光学特性测定系统包括第一测定装置。第一测定装置包括:第一检测元件,其配置在壳体内;第一冷却部,其至少局部与第一检测元件接合,用于冷却检测元件;以及抑制机构,其用于抑制在壳体内的检测元件的周围产生的温度变化。

著录项

  • 公开/公告号CN106338469B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大塚电子株式会社;

    申请/专利号CN201610532006.2

  • 发明设计人 大泽祥宏;水口勉;野口宗裕;

    申请日2016-07-07

  • 分类号G01N21/01(20060101);

  • 代理机构11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 11:12:01

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