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公开/公告号CN106338469B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-09-01
原文格式PDF
申请/专利权人 大塚电子株式会社;
申请/专利号CN201610532006.2
发明设计人 大泽祥宏;水口勉;野口宗裕;
申请日2016-07-07
分类号G01N21/01(20060101);
代理机构11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人刘新宇
地址 日本大阪府
入库时间 2022-08-23 11:12:01
机译: 投影光学系统的掩模光学特性测定方法,光学特性测定装置以及曝光方法
机译: 光学系统的反射特性测定装置及反射特性测定装置
机译:基于NIR波长海水的固有光学特性的大气校正以及自动气溶胶光谱测定(ASD)技术
机译:透射型测量系统测定偏光板的随温度变化的光学特性
机译:使用OCT系统测定基础癌的光学特性
机译:光学肺泡弹性测定:关于肺组织特性的光学测定
机译:一种用于芝加哥大学的自适应光学系统的波前重建和控制计算机,以及一种自适应光学系统的校正视场和两种增加其的方法。
机译:使用基于手术显微镜的光学相干断层扫描和振动测定系统在人中耳中进行皮克计级振动测定
机译:使用光谱法测定平面系统的光学特性
机译:用于VIs-sWIR多光谱和高光谱成像传感器的大气校正和气溶胶光学特性检索的新方法:QUaC(快速大气校正)