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光学特性的测试装置和光学特性的测试方法

摘要

本申请涉及光学特性的测试装置和光学特性的测试方法,并且本申请的光学特性的测试装置具有便宜的装置制造和维护成本,能够通过所述光学特性的测试装置测试宽范围的平面方向相位差,并且可以提供具有改善的相位延迟轴识别效率的光学特性的测试方法。

著录项

  • 公开/公告号CN109564133B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社LG化学;

    申请/专利号CN201780048799.3

  • 申请日2017-08-29

  • 分类号G01J9/00(20060101);G02B5/30(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人顾晋伟;梁笑

  • 地址 韩国首尔

  • 入库时间 2022-08-23 11:18:33

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