可调控应变梯度的薄膜材料挠曲电系数测量装置和方法

摘要

本发明公开了一种可调控应变梯度的薄膜材料挠曲电系数测量装置和方法，该装置由两层长度、宽度和厚度相同的基体梁以及设置在两层梁之间的长度和宽度与梁相同的测试薄膜形成的三明治结构，由两个上压头和两个受力支撑件组成的四点1/4弯曲夹具，装载四点1/4弯曲夹具的小载荷加载仪，与小载荷加载仪连接的控制加载力及加载频率的控制器，与小载荷加载仪依次连接的电荷放大器和示波器；通过对四点1/4弯曲夹具施力点即两个上方压头的加载控制，实现挠曲电系数测量中对应变梯度的调控；本发明方法简单，结构模型成本低且易于实现，降低了挠曲电系数测量中对应变梯度控制的难度，降低了薄膜材料挠曲电系数测量的困难。